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3D形状計測とホログラフィ干渉計測による膜・シェルの構造特性と非破壊検査への応用


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タイトル: 3D形状計測とホログラフィ干渉計測による膜・シェルの構造特性と非破壊検査への応用
著者: 松田, 浩
著者(別表記) : Matsuda, Hiroshi
発行日: 2005年 3月
記述: 平成14~16年度科学研究費補助金基盤研究B(2), 研究課題番号14350246
URI: http://hdl.handle.net/10069/14902
資料タイプ: Research Paper
出現コレクション:060 科学研究費報告書

引用URI : http://hdl.handle.net/10069/14902

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