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細束X線によるころがり接触の研究


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タイトル: 細束X線によるころがり接触の研究
その他のタイトル: Microbeam X-Ray Study on the Rolling Contact Specimens (At pmax=0.7HB)
著者: 真武, 友一 / 藤村, 顕世 / 石橋, 彰
著者(別表記) : Matake, Tomokazu / Fujimura, Kensei / Ishibashi, Akira
発行日: 1977年 7月
出版者: 長崎大学工学部 / Faculty of Engineering, Nagasaki University
引用: 長崎大学工学部研究報告, (9), pp.1-6; 1977
抄録: For rolling contact fatigue specimens (S35C, HB=160) which were subjected to a Hertzian stress Pmax = 113 kg/mm2 at different rolling cycles, the residual stress distribution at and below the contact surface was measured by X-ray microbeam diffraction and the changes of half-value breadth of the diffraction pattern were obtained The maximum value of residual stress in each specimen, except the one at low cycles (N=102), was obtained in the layer between 0.3~0.6mm below the surface, but not just at the contact surface. The residual stress distribution corresponds almost to the hardness distribution. The half-value breadth of diffraction pattern is the largest at the contact surface and decreases with distance from the surface for each specimen.
URI: http://hdl.handle.net/10069/23881
ISSN: 02860902
資料タイプ: Departmental Bulletin Paper
原稿種類: publisher
出現コレクション:第9号

引用URI : http://hdl.handle.net/10069/23881

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