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弗化亜鉛蒸着薄膜-3 : 炭素膜上の島の電子顕微鏡的観察


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タイトル: 弗化亜鉛蒸着薄膜-3 : 炭素膜上の島の電子顕微鏡的観察
その他のタイトル: Evaporated ZnF2 (Ⅲ) : Electron Microscopic Study of ZnF2 Islands on C Film
著者: 久保, 為久麿 / 井上, 康明
著者(別表記) : Kubo, Ikurnaro / Inoue, Yasuaki
発行日: 1970年 2月28日
出版者: 長崎大学教育学部
引用: 長崎大学教育学部自然科学研究報告. vol.21, p.1-4; 1970
抄録: Relations between numbers of ZnF2 islands, N, per unit area and temperatures, T (°K), of the C film substrates have been studied electron microscopically. Under the conditions that the heating temperatures of the ZnF2 charges were kept constant and T were varied in the relatively low temperature region, ln N have decreased linearly with 1/T. From the results, it has been shown that the adhesive energy (φad) is higher than the activation energy of the surface diffusion (φd ) for the film which temperatures are below ~600℃, while φad is lower than φd for the film above ~600℃.
URI: http://hdl.handle.net/10069/33063
ISSN: 0386443X
資料タイプ: Departmental Bulletin Paper
原稿種類: publisher
出現コレクション:第21号

引用URI : http://hdl.handle.net/10069/33063

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