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NAOSITE : Nagasaki University's Academic Output SITE > 060 工学部・工学研究科 > 060 紀要 > 長崎大学工学部研究報告 > 第35巻 第65号 >

電子線チャンネリングX線分光法による熱電変換材料の結晶構造解析


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タイトル: 電子線チャンネリングX線分光法による熱電変換材料の結晶構造解析
その他のタイトル: Electron Channeling Enhanced X-ray Microanalysis for Atomic Configuration in Thermoelectric Materials
著者: 森村, 隆夫 / 羽坂, 雅之
著者(別表記) : Morimura, Takao / Hasaka, Masayuki
発行日: 2005年 7月
引用: 長崎大学工学部研究報告 Vol.35(65), pp.120-126; 2005
抄録: The site occupation state of Mn atoms in a thermoelectric semiconductor Fe0.97Mn0.03Si2 of the β-FeSi2 structure was analyzed by measuring and calculating characteristic X-ray intensities at various electron incidence directions in a transmission electron microscope. The calculation was based on dynamical electron diffraction and inelastic scattering theories, and the calculated intensities were compared with the measured intensities. The intensities depended on the occupation site of Mn atoms and sample thickness. As a result, the distribution fractions of Mn atoms on Fe I, Fe II and Si sites were shown to be 0.434, 0.574 and -0.008, respectively.
キーワード: TEM-EDX / ALCHEMI / Dynamical electron diffraction / Inelastic scattering / Characteristic X-ray
URI: http://hdl.handle.net/10069/3776
ISSN: 18805574
資料タイプ: Departmental Bulletin Paper
出現コレクション:第35巻 第65号

引用URI : http://hdl.handle.net/10069/3776

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